專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線，之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。
對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
品牌：Top和Calmetrics
Top 產地：澳洲 中國區總代理
Calmetrics 產地：美國 國內代理商
我司代理Top和CalMetics一系列鍍層標準片，適用于一六儀器Elite、費希爾Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、博曼BOWMAN、禾苗、納優、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）。
1.薄膜片,單層測量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）； 銠（Rh）；鋅（Zn）；Cd（4）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）;鈀(Pd)等，其它鍍層可定制.
2.鍍層標準片:Au/Ni/Cu、Ag/Ni/Cu、Zn/Fe、ZnNi/Fe、Sn/Ni、Sn/Ni/Cu等等。
3.合金標準片：合金鍍層測量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.
4.定制厚度范圍：0.01~100μm.
特點：鍍層標準片質量精良，精度高、X-Ray儀器專用標準片。
兩種品牌的標片都分為一體式與薄片式：
一體式標樣又分單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。
例如：單鍍層：Ag/Cu，雙鍍層：Au/Ni/Cu， 三鍍層：Au/Ni/Cu/Fe，合金鍍層：Zn-Ni/Fe， 化學鍍層：Ni-P/Fe。（所有標準片都附有證書）
1.薄膜片，單層測量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）；銅（Cu）；鋅（Zn）；Cd（鎘）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）；鈀(Pd)等。
2.鍍層標準片（一體式）：單鍍層：Ag/Cu，雙鍍層：Au/Ni/Cu， 三鍍層：Au/Ni/Cu/Fe，合金鍍層：Zn-Ni/Fe， 化學鍍層：Ni-P/Fe等。
3.合金標準片（薄片式）：合金鍍層測量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等。
4.測量厚度范圍：0.01-120μm。
我們可以根據客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向供應商定做合格的標準片，并附有標準片厚度值證書，也可代客戶送檢第三方CNAS資質機構或華東計量院等各類機構校驗，并出具校驗證書等優質服務。
一般情況下：
劃線價格：劃線的價格可能是商品的銷售指導價或該商品的曾經展示過的銷售價等，并非原價，僅供參考。
未劃線價格：未劃線的價格是商品在阿里巴巴中國站上的銷售標價，具體的成交價格根據商品參加活動，或因用戶使用優惠券等發生變化，最終以訂單結算頁價格為準。
活動預熱狀態下：
劃線價格：劃線的價格是商品在目前活動預熱狀態下的銷售標價，并非原價，具體的成交價可能因用戶使用優惠券等發生變化，最終以訂單結算頁價格為準。
未劃線價格：未劃線的價格可能是商品即將參加活動的活動價，僅供參考，具體活動時的成交價可能因用戶使用優惠券等發生變化，最終以活動是訂單結算頁價格為準。
*注：前述說明僅當出現價格比較時有效。若商家單獨對劃線價格進行說明的，以商家的表述為準。
