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X射線熒光鍍層厚度測量儀日立 FT110A
X射線熒光鍍層厚度測量儀日立 FT110A
X射線熒光鍍層厚度測量儀日立 FT110A

X射線熒光鍍層厚度測量儀日立 FT110A

儀器介紹:FT110A 幫助諸多的行業確保符合電鍍規范,以避免出現性能低下的風險以及與廢料或返工相關的成本。此外,該儀器可減少一系列測量所需的時間,從而幫助提高生產力。?在任何質量保證或質量控制系統中,準確性和可靠性均至關重要,擁有改良的 X 射線熒光技術的FT110A將使您的產品滿足最高標準的行業規范要求。?借助更新的成像系統、全新的自動測量定位功能和大型樣品臺,確保這臺鍍層

  • 型號:FT110A
  • 品牌:日立
  • 價格:

儀器介紹:

FT110A 幫助諸多的行業確保符 合電鍍規范,以避免出現性能低 下的風險以及與廢料或返工相關 的成本。

此外,該儀器可減少一 系列測量所需的時間,從而幫助 提高生產力。 

在任何質量保證或質量控制系統中,準確性和可 靠性均至關重要,擁有改良的 X 射線熒光技術的 FT110A將使您的產品滿足最高標準的行業規范 要求。 

借助更新的成像系統、全新的自動測量定位功能 和大型樣品臺,確保這臺鍍層分析儀易于使用并 提高分析效率。 

基于 Windows 系統的 X-ray Station軟件提供直觀 的用戶界面,用戶可對該儀器進行全面控制。

通 過將數據直接整合到 Microsoft? Word 和 Excel 中來簡化您的質量保證/質量控制流程。


儀器特點:

多準直器組件 - 0.1 和0.2 毫米雙準直器是標準配置, 可靈活處理不同尺寸的零件。 

廣泛的分析范圍 - 可確定從鈦 (22) 到鈾 (92) 等元素的 鍍層厚度。 

校準和 FP 方法 - 使用經驗和基本參數方法來確定薄膜 厚度和成分。 

大型測量室尺寸 - FT110A 可容納尺寸高達 500 x 400 x 150 毫米且重量達到 10 千克的樣品。

一鍵式測量 - 使用中心搜索功能進行簡化的自動測量意 味著幾乎任何人都可以測試樣品。


性能優勢:

1.通過自動定位功能提高操作

測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現在3秒內即可完成,大大提高樣品定位的操作性。

2. 微區膜厚測量精度提高

通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。

3. 多達5層的多鍍層測量

使用薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。

4. 廣域觀察系統(選配)

可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。

5. 對應大型印刷線路板(選配)

可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。

6. 低價位

與以往機型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價格。


底部簡介

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