1.顯微領域的高精度檢測
通過采用新開發的多毛細管,以及對探測器的優化,在實現照射半徑等同于舊有型號FT9500X為30 μm(設想FWHM: 17 μm)的基礎上,進一步將處理能力提高到了2倍以上。
2.產品陣容適應各類檢測樣本
針對檢測樣本的不同種類,可在下列3種型號中進行選擇。
測量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、超薄薄膜的型號
能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號
適合對陶瓷芯片電極部分中,過去難以同時測量的Sn/Ni兩層進行高能測量的型號
3.兼顧易操作性與安全性
放大了開口,同時樣本室的門也可單手輕松開閉。從而提高了取出、放入檢測樣本的操作簡便性,并且該密封結構也大大減少了X射線泄漏的風險,讓用戶放心使用。
4.檢測部位可見
通過設置大型觀察窗、修改部件布局,使得樣本室門在關閉狀態下亦可方便地觀察檢測部位。
5.清晰的樣本圖像
使用了分辨率比以往更高的樣本觀察攝像頭,采用全數碼變焦,從而消除位置偏差,可以清晰地觀察數十μm的微小樣本。
另外,亦采用LED作為樣本觀察燈,無需像以往的機型那樣對燈泡進行更換。
6.新GUI
將各類檢測方法、檢測樣本都以應用程序圖標的形式進行了登記。圖標皆為檢測樣本的照片、多層膜的圖示等,因此登記、整理起來就很方便,從而使得用戶可以不走彎路,直接進行檢測。
使用檢測向導窗口來指導操作。通過與檢測畫面聯動,逐步引導用戶執行當前所需進行的工作。
型號 | FT150(標準型) | FT150h(高能量型) | FT150L(大型線路板對應) |
---|---|---|---|
測量元素 | 原子序數13(Al)~92(U) | ||
X射線源 | 管電壓:45 kV | ||
Mo靶 | W靶 | Mo靶 | |
檢測器 | Si半導體檢測器(SDD)(無需液氮) | ||
X射線聚光 | 聚光導管方式 | ||
樣品觀察 | CCD攝像頭(100萬像素) | ||
對焦 | 激光對焦、自動對焦 | ||
最大樣品尺寸 | 400(W) × 300(D) × 100(H) mm | 400(W) × 300(D) × 100(H) mm | 600(W) × 600(D) × 20(H) mm |
工作臺行程 | 400(W) × 300(D) mm | 400(W) × 300(D) mm | 300(W) × 300(D) mm |
操作系統 | 電腦、22英寸液晶顯示屏 | ||
測量軟件 | 薄膜FP法(最多5層膜、10元素)、檢量線法、定性分析 | ||
數據處理 | Microsoft Excel、Microsoft Word 安裝 | ||
安全功能 | 樣品門聯鎖 | ||
消耗電量 | 300 VA以下 |
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*注:前述說明僅當出現價格比較時有效。若商家單獨對劃線價格進行說明的,以商家的表述為準。