CMS2

COULOSCOPE CMS2 系列儀器通過電解退鍍方式測量鍍層厚度。還可使用庫侖法精確測定任何類型底材上的多鍍層厚度。CMS2 STEP 版本可對單種鍍層進行標(biāo)準(zhǔn)的STEP測試，以檢測電位差（如多層鎳涂層的質(zhì)量控制）。

特性：

• 使用準(zhǔn)確性高的電解退鍍技術(shù)（庫侖法），精確地測量多鍍層的厚度

• 圖形顯示的交互方式，易于操作

• 適用性廣泛：可測量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度，也適合測量多鍍層厚度

• 提供全面的附件產(chǎn)品供您選擇，可滿足特定需求

應(yīng)用：

• 金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層

• 單層或多層的鍍層厚度測量

• 特別適用于通過 STEP 測試進行多層鎳測量

• 適用于 0.05 μm 至 40 μm 的鍍層厚度測量