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Thick800A鍍層測厚儀

2017-09-14 13:32:14 optima 109

Thick800A鍍層測厚儀


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Thick800A主要應用于金屬鍍層膜厚的檢測,鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍銀等,屬于能量色散X熒光鍍層膜厚儀,儀器有三維移動平臺,清晰的樣品觀測系統。儀器可以同時檢測多個元素,可進行多層鍍層分析檢測;測量厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同);最小孔徑可達0.1mm,也可根據客戶產品需求選裝0.2mm0.3mm0.5mm準直孔(準直孔已置于儀器內), X/Y/Z平臺移動可在軟件直接設定移動速度快慢,以方便更好定位; Thick800A不僅測試準確、快速、無損、直觀及環保五大特點,而且采用X熒光分析儀器行業最先進探測器技術(SDD)可更好的對樣品進行定性和定量。

Thick800A是專門研發用于鍍層行業的一款儀器,Thick800A電鍍測厚儀可根據自動樣品平臺進行全自動軟件操作,而且還可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺,使用起來更加簡捷方便。

Thick800A電鍍層測厚儀性能特點:

滿足不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm
的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試

采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

Thick800A電鍍層測厚儀技術指標:
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U 
一次可同時分析最多24個元素,五層鍍層
分析檢出限可達5ppm,最薄可測試0.005μm
分析含量一般為5ppm99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型

度適應范圍為1530


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