膜厚儀標準片主要用于檢驗電解測厚儀的準確性，該標準片經(jīng)保護材料研究所檢驗認證，為電解測厚儀厚度標準檢驗片，由于產(chǎn)品精度高，均勻性好，在電鍍行業(yè)中一直作為厚度的統(tǒng)一標準而得到大量的使用。測厚儀標準片又名膜厚儀校準片或者薄膜片，專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。

　　膜厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx，化學鍍層：Ni-P/xx。

　　膜厚儀標準片校準：

　　1.校準箔

　　對于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準，而且比用有覆蓋層的標準片更合適。

　　2.基體

　　(a)對于磁性方法，膜厚儀標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實標準片的適用性，可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數(shù)進行比較。

　　(b)如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準：

　　(1)在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準;

　　(2)用一足夠厚度的，電學性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。

　　(3)如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。

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