X熒光測厚儀是建立適合用戶的標準樣品庫，才能將X射線熒光光譜儀效能發揮很好，雖然前期要做許多工作，例如收集樣品，樣品分析，標準樣品制備等工作。建立好自己面向應用的標準樣品庫，可以讓自己的檢測做到一定的效果。接下來和奧譜瑪一起了解X熒光測厚儀樣品測試技巧。

　　X熒光測厚儀樣品測試技巧：

　　1. 樣品擺放技巧樣品結構對測試影響

　　樣品放置原則

　　從正面看，X 射線熒光接受器在所放置樣品的前邊。必須正確放置樣品，保證 X 射線熒光不受干擾地到達探測器。對于標準片之類的表面很平的樣品來說，把它們放在測量臺上就足夠了。 對于棒狀的圓柱形樣品來說，放置時應注意使樣品在測量臺上的縱軸與儀器軸平行。

　　1.1樣品擺放方向及位置由設備結構決定(結構如下圖1)

　　(圖1)

　　水平要求：樣品測量面與工作臺面平行，與X射線方向保持垂直

　　位置要求：長條形和圓柱形樣品軸向與計數器保持垂直，以接受更多X熒光(如下圖2)

　　(圖2)

　　根據上圖可以看出，圓柱形的工件正確的放置方法是垂直放置。

　　并且一定要放置到工件正中央軸線上。 角形或臺階式樣品的放置十分重要，樣品不能擋住 X 熒光

　　2.被測工件與接收器之間的關系

　　被測工件放置方向與接收器之間的關系

　　3.為了正確測量涂鍍層厚度，樣品的直徑￠應大于測試面積的四倍：

　　￠ > 4 M

　　對于曲率半徑 r，相應公式為: r > 2M

　　4.異形件

　　保持與測量面水平，不可晃動，垂直截面長軸方向與計數管垂直。

　　5. 細小件

　　保持與測量面水平，不可晃動，垂直截面長軸方向與計數管垂直。設備選用準直器小于測量點。

　　6.工作臺面承重，<2KG

　　14 滿足樣品腔尺寸規格，超出尺寸可打開樣品腔適當測量。

　　7. 測量時間的選擇。

　　測量時間越長穩定度越好。一般來說，單鍍層不少于 15 秒，雙鍍層和合金比例測量時間不少于 30

　　秒，三鍍層測量時間不少于 45 秒，鍍液主鹽離子濃度測量時間在 30~60 秒之間

　　8. 統一鍍層標識方法(參考Fischer)

　　A、單層：如 Au/Ni (Au：表示鍍層，Ni：表示底材)

　　B、雙層：如 Au/Ni/Cu (Au：表示最上層 Top. Coating)

　　(Ni：表示中間層 Int. Coating)

　　(Cu：表示底材Base)

　　C、合金比例及厚度： 如 SnPb ( % Sn ) / Cu Thickness：

　　表示SnPb(錫鉛合金的厚度) Comp.(%)： 表示

　　Sn(錫的比例)，則Pb鉛的比例為

　　9. 常用元素符號、原子序數、密度及合金的表示

　　* EN (NiP) (化學鎳) (無電解鎳)

　　1) 低磷 EN：含磷量 6%以下，密度：8.315

　　2) 中磷 EN：含磷量 7 ~ 9%，密度：8.164

　　3) 高磷 EN：含磷量 10~12%，密度：8.020

　　* 合金銅：

　　1) Bronze (青銅) (銅錫合金，錫含量約 4-6%)

　　2) Brass (黃銅) (銅鋅合金，鋅含量約 40%)

　　3) Red Brass (紅銅) (鋅 15%，銅 85%)

　　以上就是奧譜瑪整理分享的關于X熒光測厚儀樣品測試技巧，經過此文相信大家對品測試技巧有了一定的了解。想了解更多相關資訊，歡迎持續關注。